国际信息工程先进技术译丛 低功率、高分辨率的A-D转换器

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【作　者】（荷）阿米尔·齐亚约，何塞·皮内达·德杰韦兹著
【形态项】 232
【出版项】 北京：机械工业出版社 , 2018.03
【原书定价】79.00

内容提要:
在本书中，作者概述了这些创新的有价值的例子，并给人们机会看到它们在应用于高分辨率模-数（A-D）转换器（ADC）开发时的优势。更具体地，读者可以发现本书的主要贡献在于：使用时间交织的信号处理和校准的多步A-D转换器的设计、用于这些转换器的完全可观测性和可控性的DfT（可测性设计）技术的提出和实现、可以识别过程参数变化的传感器网络的方法与设计、使用小型样本来估计过程变化的算法的建议以及用于晶片级测试的测试模式生成器的开发。

目录
缩略语表
物理量符号
第1章  绪论
    1.1  A-D转换系统
    1.2  浅谈当前的设计与调试实践分析
    1.3  动机
    1.4  本书内容组成
第2章  A-D转换
    2.1  高速、高分辨率A-D转换器架构选择
    2.2  低压A-D转换器设计注释
    2.3  A-D转换器模块
    2.4  A-D转换器：总结
第3章  多步A-D转换器的设计
    3.1  多步A-D转换器架构
    3.2  非理想多步A-D转换器的设计注意事项
    3.3  时间交错的前端S/H电路
    3.4  多步A-D转换器级设计
    3.5  中间级设计和校准
    3.6  实验结果
    3.7  小结
第4章  多步A-D转换器的测试
    4.1  准静态结构试验的模拟ATPG
    4.2  可测性概念的设计
    4.3  用于BIST的片上激励的产生
    4.4  内置自测概念的注释
    4.5  深亚微米CMOS工艺的随机分析可靠电路设计
    4.6  小结
第5章  多步A-D转换器的调试
    5.1  传感器网络概念
    5.2  模板级过程变化的估计
    5.3  多步A-D转换器级的调试
    5.4  DfT用于多步转换器的完全可访问性
    5.5  时间交织系统的调试
    5.6  前景校准
    5.7  实验结果
    5.8  小结
第6章  结论和建议
    6.1  结果概述
    6.2  推荐和未来研究

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