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4 g% N' Z( P% V: P9 `2 j
【作 者】马毅龙编+ D6 u/ g2 A& I& t) m, J, O# y7 v
【丛书名】高等学校规划教材
8 {) Y7 H- N* a: `【形态项】 182, x( Z, F# U7 ~, `. @
【出版项】 北京:化学工业出版社 , 2017.09
" Z. m, s+ o( `' D2 i【原书定价】38.00* @5 O( N1 E$ `- I |5 Y z- t
内容提要:9 N6 u3 u1 L6 L" [1 [7 y" M
本书内容是材料相关学科的重要必修知识,书中内容包括材料现代测试技术基础,衍射技术、电子显微分析技术1 v; ^, A4 @/ ~5 q9 f( O
目录页
& y; y0 K3 m3 b) b; t' I7 ~, ~+ C第1章 X射线衍射分析原理、方法及应用# h8 T8 M9 R6 U [
1.1 晶体结构简介
" v# b" S# o- I5 d+ D. n1 r5 R 1.1.1 晶体结构的基本特点
- |' Y: p* E4 ]" ] 1.1.2 点阵与点阵结构7 N6 a- O0 |; s K& k
1.1.3 晶体的宏观对称性
3 G3 X+ u4 `% C4 |9 J 1.1.4 倒易点阵. @% l* ]$ Y* [
1.1.5 晶带及晶带定理
, q8 j- A! Y7 X0 P6 X) b3 C 1.2 X射线基础0 e6 \# N! w4 U
1.2.1 X射线简介
" n8 V4 @' @1 E) v* B1 E; K& j1 b; D 1.2.2 连续X射线谱2 g+ m o/ g. O' [
1.2.3 特征X射线谱5 Z- s( y9 e/ ?# U4 |' T
1.3 晶体对X射线衍射
7 k n! k6 D' `/ Z( [' e6 C 1.3.1 衍射方向6 U2 X* J: e: \5 J
1.3.2 衍射强度4 k _2 ~' Q& t
1.3.3 X射线辐射防护" ?8 j1 r7 ]- G
1.4 X射线衍射仪
- f( V% p! ^6 R 1.4.1 X射线发生器
8 m0 o$ A5 @1 B* \& q6 m 1.4.2 测角仪8 q9 t+ N9 v) N' }6 n- U* O
1.4.3 X射线探测仪$ q9 a5 \/ ^) x! ]3 X4 ]$ U9 s
1.4.4 测量方式和实验参数的选择& j* s/ _8 q" ^
1.5 粉末衍射方法应用( W' p" M2 s! ^
1.5.1 物相分析
+ T/ V$ v# c, p! {' |7 o 1.5.2 晶胞参数的精确测定及其应用1 u( @; I( E- h& ]. l
1.5.3 薄膜分析中常用的X射线方法2 e9 |$ i: r! j. q% T0 l
1.6 实例6 L- c* Q! U( S N4 J% i3 z* n
1.6.1 Jade基本功能/ c$ @$ Y& M- y, P- E2 e7 s
1.6.2 Jade的用户界面
; [) k- `1 m8 e4 D1 Q 1.6.3 查看PDF卡片2 Z0 E& t% a y/ O$ y6 x6 F
1.6.4 物相定性分析% n9 H& Q4 G! }5 `% a' p
1.6.5 物相定量分析
% Y; I8 Z" `( h2 d u- r% W 1.6.6 晶粒大小及微观应变的计算, j/ d! F3 G" e! n2 B. Z ^
第2章 扫描电子显微分析5 q& Y( c6 r) |6 B, D( E5 K
2.1 扫描电子显微镜简介
& x0 \6 c. u6 B* W 2.2 电子束与样品相互作用产生的信号
% w/ O5 \0 D" ]1 I l; A& w 2.2.1 二次电子! d' M+ p( d8 y! Q% d( i
2.2.2 背散射电子2 I$ _/ |0 D2 W2 \9 T8 n
2.2.3 特征X射线" n9 ` Y8 [! f" q( r
2.2.4 俄歇电子
3 J( D5 _- \8 T! ] 2.3 扫描电子显微镜的工作原理
3 K9 K( c& w7 Q+ Q) g9 |! E; E 2.4 扫描电子显微镜的基本结构) |" m! u( j" i% L0 T. O
2.4.1 电子光学系统
d* C, c& U. _7 W4 T; K* I1 M5 z t 2.4.2 信号收集处理、图像显示和记录系统
- b# O/ n* K# k 2.4.3 真空系统与电源系统0 I2 ~, i& [3 X2 J2 A( m9 a
2.5 扫描电子显微镜的性能
: J6 R& [0 a7 V% h& E2 l 2.5.1 放大倍数
0 N- v. t- e, h* j9 ` 2.5.2 分辨率
* H) e: d0 G) k$ j 2.5.3 景深
: c% B" C6 U: O& d% `2 A7 C 2.6 扫描电子显微镜衬度原理
, n) N* w1 c4 m$ B$ J! u 2.6.1 表面形貌衬度- N/ E c" {# ~0 l/ J" Q
2.6.2 成分衬度# x5 g9 S% n" |0 W E" e
2.6.3 电压衬度
3 \. x, u" r) A1 J# G 2.6.4 磁衬度, e1 g P& r+ s
2.7 电子探针显微分析: ~' m5 N) ~% f
2.7.1 电子探针的发展% _' f$ M- n( j" L3 Z
2.7.2 电子探针的基本原理及构造) z7 k; j; |. j1 t! z6 C
2.7.3 电子探针分析方法
S: d% h7 j; K% b8 n9 D# n6 V 2.7.4 样品制备要求1 w0 L* q8 E7 b* q+ J
2.7.5 电子探针的应用
) L5 T0 V, [. R8 T" P' \) E) j 2.8 电子背散射衍射及应用3 U8 q; e! F( E4 c+ q
2.8.1 EBSD的结构及基本原理
! R6 f3 n1 C! w6 f7 } 2.8.2 EBSD的分辨率8 M" A- c7 F; W- I9 r$ m
2.8.3 EBSD样品的制备
8 j8 D5 d- {) z 2.8.4 EBSD的应用2 C, U) @' t% B* u" E0 D) ]% j
2.9 扫描电子显微镜样品的制备
, ]/ d7 |* Q+ d) Q2 ^* Y6 E R, S/ y 2.10 常见典型断口
# Z, Z" I( A) S9 |9 l. }+ Q- N6 W 2.10.1 韧窝断口7 n0 P1 W8 V; g- F2 J
2.10.2 解理断口
& }4 g: O; V+ \5 y+ h 2.10.3 准解理断口: b4 p' G; X' p3 M) c, y+ O5 S% c
2.10.4 脆性沿晶断口# ^! V9 f. t. e
2.10.5 疲劳断口
1 a8 n* n) {. \ W6 c) k1 o第3章 透射电子显微分析
: Y7 ^; P8 [2 R- S- I 3.1 透射电子显微镜简介
# a( f9 o% K0 G) A- Y$ b 3.1.1 透射电子显微分析发展简史
. n5 o3 q0 k, H6 F 3.1.2 透射电子显微镜的分辨率
7 W4 D5 o, M! N: @# r' L 3.2 电磁透镜的像差$ M0 k7 z" {2 i& f) v4 O* m
3.2.1 几何像差
~: I* T7 R1 G1 v; V) z! F3 D# g Z, u 3.2.2 色差
/ P* b' q& @& a2 | d8 n 3.3 透射电子显微镜的结构与成像原理
6 A: ~& ?, m/ @" c ` R) k& y. T 3.3.1 电子光学系统* d3 I' L8 `2 g
3.3.2 辅助系统
: q7 M- C: c, O- ~% P 3.3.3 透射电子显微镜成像原理
, ~) a' \* Q+ T" F' f 3.4 电子衍射
. S9 G" T( J0 B, I7 }, i/ ` 3.4.1 电子衍射基本原理
% E! I, H) F% j! k) b0 c 3.4.2 选区电子衍射8 `/ v6 s/ d$ y9 v% `+ I
3.4.3 磁转角
0 Q! L, d% k3 t( M1 p- ? 3.4.4 单晶体电子衍射花样标定7 N$ f( V6 b4 b2 T6 v5 K
3.4.5 多晶体电子衍射花样标定
# h& q& Z1 S- F 3.5 透射电子显微镜衬度原理2 H7 E8 N' x D' Y& e
3.5.1 质厚衬度+ c! R$ n$ K: Q5 ~( ?) `
3.5.2 衍射衬度
/ j: |; ], b8 z7 L. J8 j: C3 k1 e# p 3.5.3 相位衬度; K m" q% G* N+ j2 Z: z
3.6 扫描透射电子显微镜" Y% {7 o L/ m0 }! T
3.6.1 扫描透射电子显微镜的工作原理2 t% l( S* Y% `# d' ]4 ^4 g5 ]
3.6.2 扫描透射电子显微镜的特点
- p9 H1 S7 v6 L! r2 t7 s2 A 3.7 透射电子显微镜样品制备) \ y& d. e% ^$ ~, g* A% O
3.7.1 表面复型技术* n# q- r: W( `2 G' M6 c3 J9 S0 t% v
3.7.2 薄膜制备技术
g. [- [1 o* Y, _& ^ 3.7.3 粉末制备技术# v! d$ q- L$ v* F5 J/ Z
3.7.4 透射电子显微镜样品制备的其他方法
4 J" S" X5 J& u 3.8 透射电子显微镜的应用8 W$ I9 z! g. i' b2 R" H; X
3.8.1 形貌分析7 ~" }$ W2 A: I5 L
3.8.2 晶体缺陷分析
0 D* E$ S g4 \# t2 }$ t: U 3.8.3 晶体结构分析" t4 [* g3 H3 n% S9 s! f
3.9 透射电子显微镜的基本操作
: M! Z0 O& h% c, x3 M第4章 热分析技术3 i$ C' d1 w1 P% M' e) d7 i8 M9 u7 G
4.1 热分析技术简介 {2 } F, ^; S7 L# p
4.2 热重分析法
* W( F5 D# ^. K. d 4.2.1 系统组成
! a8 c. o6 L% R2 S6 L! a4 W3 q 4.2.2 基本原理. B/ o. M4 r; I7 q& g! o7 h
4.2.3 影响因素
$ V/ b. T8 P5 f& _. o 4.2.4 测试技术
. |0 ]- l% L3 k. i 4.3 差热分析法
# u0 D" n7 A" o4 v' _8 j 4.3.1 系统组成
# p4 V) g5 ?1 J/ q+ X( y0 u5 |9 d: } 4.3.2 基本原理/ `$ g2 T# Q: ~3 S
4.3.3 影响因素- F' M3 T$ \3 ~
4.3.4 测试技术
: o c5 |" V y4 B# e- R" s 4.4 差示扫描量热法% P3 W' t7 B; D+ X
4.4.1 系统组成与原理( I: V2 g( ]$ W' S2 S( {
4.4.2 影响因素; e2 [0 @; D+ f) R9 Y1 o
4.4.3 测试方法
7 T K8 K0 o5 E- m1 c! q# j& b 4.5 热分析的应用
S# v: P& s- U2 z 4.5.1 差热分析及差示扫描量热分析法的应用
F2 I' L4 V+ t6 g 4.5.2 热重分析法的应用
& X# V% a P% F8 d0 C3 R 4.5.3 热分析技术的发展趋势
5 i6 V( T8 W" `: Y9 l& a; M- K第5章 原子力显微镜' v! f! q; y6 k0 \! L
5.1 原子力显微镜的基本知识6 \9 X9 y4 g9 Y# r
5.1.1 显微技术简介
P/ M' H, v( h& Y! q 5.1.2 原子力显微镜工作原理
) V2 [ s( f8 M4 N, R9 s1 s5 ~ 5.1.3 原子力显微镜的功能技术+ o1 B }* _8 c; t1 V1 V" E% _- F
5.2 原子力显微镜的应用
9 ~" X/ v1 Q. m! e$ x 5.2.1 在材料科学方面中的应用; O: i' Y$ A+ J9 z& o* @( N
5.2.2 在其他有关方面中的应用
; \6 z1 }* P: A( f# e _ 5.3 原子力显微镜的表面分析
+ B2 \! f* R2 f' X( c% E/ y7 d, ~ 5.4 原子力显微镜与其他显微分析技术
/ A1 t0 Q+ l. m1 k4 y0 }' } 5.4.1 原子力显微镜与其他显微分析技术的比较- a4 p0 K" D, ~2 R: B' z g1 S
5.4.2 原子力显微镜与扫描电子显微镜, K+ @& F: b3 N
第6章 常用物性测试分析方法& S4 N' j, g+ O3 q4 Y
6.1 磁性测量系统+ x7 Q# \. s6 Z O! {2 {
6.1.1 设计原理
" r9 q1 I# T# l4 {: G" o 6.1.2 测量选项
5 w; G2 ~9 {7 ]; y4 G, T 6.1.3 MPMS设备的应用和需要注意的问题9 S6 u; l T, w! j; s; z7 y' q
6.2 物理性质测量系统( ?1 J# @' o/ Q+ B8 ?+ _9 k; n
6.2.1 设计简介* I4 o+ B4 ~0 A+ I) P( \
6.2.2 基本系统
7 H- J' b9 C2 x3 ~ 6.2.3 测量原理和方法
0 \ K3 F- k9 |8 W 6.2.4 PPMS的主要应用% j/ f M0 S; y+ `3 D
6.2.5 PPMS需要注意的问题 @( f4 j" H3 Z; C6 o; b
6.3 电滞回线测试系统% T8 H) G! ]& c
6.3.1 铁电体的概念$ S9 h1 ^6 P8 Y2 N3 m b
6.3.2 铁电体的特点
% H- C* d9 O0 B% W2 f" U 6.3.3 测量仪简介
0 m$ @) ~/ q: i& u 6.3.4 测量结果
, l% t; W% j: I$ s# e 6.4 太阳能电池测试系统
3 U. T+ ]4 G; o8 z( \6 f1 i1 Q* g$ m+ K 6.4.1 太阳能电池的基本原理
2 {, x: \. {6 H 6.4.2 太阳能电池参数的定义
0 O9 S' y& D }+ d 6.4.3 太阳光模拟器4 }0 |. O& ?6 L! r% W j
6.4.4 太阳光模拟器的主要指标& k5 b' ?0 m1 A* X' m9 @
6.4.5 测试方法( u/ w. c' @" o5 \
6.4.6 测试结果
# p0 h3 W- F( H2 Z! w- K第7章 常用光谱分析方法简介+ d( @' S7 j' e/ I+ U1 z1 Q' y1 `
7.1 光谱分析方法
9 h: e0 x8 p* V3 J0 G. I- l/ D 7.2 紫外-可见光谱4 X& q+ Q& I/ U9 [0 q, _
7.2.1 简介- L1 Z4 Q& z4 i! N1 t
7.2.2 基本原理和系统组成. D7 x9 m7 o( P* b) D7 H* E) n g
7.3 红外吸收光谱& X4 ~( {4 p+ V% F: F( [. _
7.3.1 简介' X; k4 T& e3 H- s( e
7.3.2 基本原理和系统组成
; h' {$ e% @+ O8 S& a3 y9 a 7.3.3 样品制备
@. B5 a- M4 m" C 7.3.4 应用举例7 `: H# K( B3 d4 T' L
7.4 拉曼光谱/ `& j% Y- w8 r1 N! L9 N
7.4.1 简介
; X) d7 X/ m- O; p, M$ Z& i 7.4.2 激光拉曼光谱与红外光谱比较2 ~" V+ q+ [! X$ }) s
7.4.3 试验设备和实验技术3 `" c3 R0 m |, `) c. _- D+ L
附录
6 S' T% Q3 q% K" v附录1 常见晶体的标准电子衍射花样, R3 L6 H+ {/ F$ m Z- q4 z$ I5 r
附录2 立方晶体和六方晶体可能出现的反射
' `$ p! B5 f7 G, p1 p& b' q ~. g" I. W( r
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